あらゆる電気ノイズを高精度に測定

電気製品・電子基盤から発生する、あらゆるノイズ源を高精度に測定・評価。EMC試験回数削減、品質評価管理、改善効果確認に役立ちます。

RAM高速化によるノイズ

高速I/Fによるケーブル輻射

電源ピンからのノイズ漏洩

基板、部品からの輻射

システムLSI内での誤動作

LSI間のノイズカップリング

ノイズによる誤動作

今まで不可能だった形状・サイズにも対応

タッチセンサーや新開発のハンディシステムにより3D測定が簡単に。今まで測定が困難だった形状・サイズの対象物にも対応。

専用解析ソフトで視覚的に評価・解析

専用解析ソフトによって評価・解析を視覚化。ノイズの発生源をピンポイントで発見できます。