あらゆる電気ノイズを高精度に測定
電気製品・電子基盤から発生する、あらゆるノイズ源を高精度に測定・評価。EMC試験回数削減、品質評価管理、改善効果確認に役立ちます。
・RAM高速化によるノイズ
・高速I/Fによるケーブル輻射
・電源ピンからのノイズ漏洩
・基板、部品からの輻射
・システムLSI内での誤動作
・LSI間のノイズカップリング
・ノイズによる誤動作
今まで不可能だった形状・サイズにも対応
タッチセンサーや新開発のハンディシステムにより3D測定が簡単に。今まで測定が困難だった形状・サイズの対象物にも対応。
専用解析ソフトで視覚的に評価・解析
専用解析ソフトによって評価・解析を視覚化。ノイズの発生源をピンポイントで発見できます。
